X射线衍射仪是对物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的基本手段，利用衍射原理，精确测定物质的物相、织构、平均晶粒尺寸、结晶、晶体缺陷参数及应力，对物相进行定性和定量分析。
仪器无破坏性、晶相与结构取向的量化测量、对样品制备简单，绝大部分样品可在直接在大气环境中进行。因此被广泛的应用于汽车制造业、新材料、医药、半导体、显示器、电子、工业产品、制药、新能源等领域。可进行普通样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。
X射线衍射仪原理：
将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，当X射线的波长和晶体内部原子之间的间距相近时，受到物质中原子或离子的散射，晶体机构中每个原子都产生散射波，散射波之间会相互干涉，产生衍射，衍射波在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的*的衍射现象。
波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔与已知的表对照，即可确定试样结晶的物质结构，X射线衍射峰是由样品各晶面族上在特定角度散射的X射线单色束通过结构干涉而产生的，峰强度由晶面内的原子排列来决定。
因此，X射线衍射仪给定材料的周期原子排列的特征图谱，通过X射线粉末衍射数据库的在线搜索功能能够快速识别各种各样的晶体样品中的相。
