一、核心配置选择
X射线源
功率与靶材：普通实验室可选3kW金属陶瓷X光管（如Cu靶），满足常规物相分析需求；高功率场景（如催化剂研究）需配置9kW转靶或液态金属靶（如布鲁克D8VENTURE的METALJET），可提升信噪比并缩短测试时间。
波长选择：Cr/Fe/Co/Mo靶材适用于特定元素分析，如Mo靶（λ=0.7107Å）适合高分辨率需求，而Cu靶（λ=1.5406Å）为通用选择。
测角仪
精度与分辨率：高精度测角仪（如±0.001°重复性）是物相定量分析的关键，理学SmartLab采用双光学编码直接定位技术，可实现1/10000度步进；布鲁克D8ADVANCE的θ-2θ联动立式测角仪则兼顾粉末与薄膜样品。
扫描范围：2θ范围需覆盖目标衍射角（如-3°至+150°），以适应小角散射（SAXS）或广角测试需求。
探测器
类型与性能：闪烁计数器适用于常规测试，而线阵探测器（如布鲁克LYNXEYEXE）可实现快速扫描（1000°/min）；高灵敏度场景需选择光子计数探测器（如PHOTONIII），其动态范围达10⁶cps，适合弱信号检测。
光学附件
平行光路：Göbel镜或CBO交叉光学组件可消除轴向发散，提升分辨率至0.0001°级；
原位附件：温控范围覆盖-190℃至1300℃（如ItalstructuresAPD2000），支持电池充放电、催化反应等动态过程研究。
二、技术路线对比
传统螺杆-齿轮传动vs光学编码定位
传统机械传动：通过螺杆-齿轮副实现角度测量，精度可达±0.01°，但长期使用易磨损，需定期校准；
光学编码定位：采用直接读取编码盘信号，重复性提升至±0.001°，且无机械磨损，适合高精度需求。
单色器与滤波片选择
单色器：Cr/Fe/Co/Mo二次单色器可消除Kβ辐射干扰，提升峰背比，但会降低强度（约30%）；
滤波片：Ni滤波片（针对Cu靶）可简单过滤Kβ线，成本低但分辨率略逊于单色器。
软件功能差异
基础分析：所有设备均支持物相鉴定（如PDF卡片匹配）、结晶度计算；
高级功能：布鲁克APEX软件支持Rietveld精修与结构解析，理学PDXL提供织构分析与应力测定模块，Italstructures配套软件则强化了薄膜厚度与粗糙度计算。
三、选型建议
科研机构：优先选择高功率（≥9kW）、光学编码定位测角仪及光子计数探测器，如布鲁克D8VENTURE或理学SmartLab，以支持前沿研究（如单晶结构解析、原位动态分析）；
工业检测：可选3kW金属陶瓷X光管、传统机械传动测角仪及闪烁探测器，如普析通用XD-6，兼顾成本与可靠性；
特殊场景：若需条件测试（如超低温/高温），需确认设备是否配备原位附件及辐射防护系统（如ItalstructuresAPD2000的双重安全门禁）。
